??X射線分析儀是一種根據(jù)物體受到X射線照射時(shí)的熒光X射線光譜來分析元素含量的裝置。

X射線分析儀用于材料的定性和定量分析，并作為分析材料成分的方法，因?yàn)樗梢栽诙虝r(shí)間內(nèi)檢查而不破壞樣品。

X射線分析儀可以測(cè)量固體和液體，作為定性分析方法相對(duì)靈敏，使其成為高度可靠的檢測(cè)設(shè)備。

X射線分析儀的應(yīng)用

X射線分析儀可以以非破壞性的方式對(duì)固體或液體樣品進(jìn)行定性和定量分析。特別用于調(diào)查合金材料和土壤中有害金屬的存在和含量。

例如，X 射線分析在研究成分未知的材料（例如巖石和隕石）的成分時(shí)非常有效。最近，出于環(huán)境和安全原因，人們一直在推動(dòng)印刷線路無鹵素，為了確保這一點(diǎn)，需要使用 X 射線分析儀對(duì)印刷線路進(jìn)行分析。也可用于危險(xiǎn)化學(xué)物質(zhì)的定性和定量測(cè)定，以及RoHS指令規(guī)定物質(zhì)的測(cè)試。此外，現(xiàn)在出現(xiàn)了易于攜帶的便攜式設(shè)備，其用途正在擴(kuò)大。X射線分析儀用X射線照射物體并測(cè)量所發(fā)射的熒光X射線的波長(zhǎng)（或能量）和強(qiáng)度。

當(dāng)物質(zhì)受到X射線照射時(shí)，其原子吸收能量，被激發(fā)，并發(fā)射熒光X射線。由于每種元素的熒光 X 射線的波長(zhǎng)（或能量）都是唯一的，因此還可以根據(jù)檢測(cè)到的熒光 X 射線光譜的波長(zhǎng)來識(shí)別物質(zhì)的類型，并根據(jù)其強(qiáng)度對(duì)其進(jìn)行定量。

X 射線分析儀由產(chǎn)生 X 射線的 X 射線源、容納樣品的樣品室以及對(duì)產(chǎn)生的熒光 X 射線進(jìn)行光譜檢測(cè)的檢測(cè)單元組成。

X射線源通過用通過施加高電壓產(chǎn)生的電子束照射諸如鎢之類的目標(biāo)來產(chǎn)生X射線。產(chǎn)生的 X 射線照射到樣品的頂面或底面。此時(shí)，您可以選擇樣品室中的氣氛，例如空氣、氮?dú)饣蛘婵铡?/font>